关于安原    分析仪器    iEDX-150WT镀层厚度分析仪
iEDX-150WT镀层厚度分析仪

iEDX-150WT镀层厚度分析仪

多变量非线性去卷积曲线拟合;

高性能FP/MLSQ分析;

仪器尺寸:840×613×385mm;

样品台尺寸:620×525mm;

样品台移动范围:前后左右各100mm、高度5mm。

应用领域:

iEDX-150WT镀层厚度分析仪应用于PCB镀层厚度测量,PCB镀层分析,金属电镀镀层分析领域;

 

技术指标:

多镀层,1~5层;

测试精度:0.001 μm;

元素分析范围从铝(Al)到铀(U);

测量时间:10~30秒;

SDD探测器,能量分辨率为125±5eV;

探测器Be窗0.5mil(12.7μm);

微焦X射线管50kV/1mA,钼、钨、铑靶;

6个准直器及多个滤光片自动切换;

XYZ三维移动平台,MAX荷载为5公斤;

高清CCD摄像头,准确监控位置;

多变量非线性去卷积曲线拟合;

高性能FP/MLSQ分析;

仪器尺寸:840×613×385mm;

样品台尺寸:620×525mm;

样品台移动范围:前后左右各100mm、高度5mm。

 

图谱界面:

软件支持无标样分析;

宽大分析平台;

可自动连续多点分析;

集成了镀层分析界面和合金成份分析界面;

采用多种光谱拟合分析处理技术。

 

分析报告结果

直接打印分析报告;
报告可转换为PDF,EXCEL格式。

 

样品分析图谱:

 

 

测试结果界面: